EBIC 控制放大器設備-簡介

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·   型號：KDT-EBIC-AMP-2024

·   分辨率：10pA

·   帶寬：≤100KHz

·   跨阻增益檔位：1MΩ/10MΩ/100MΩ/200MΩ

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     EBIC（電子束感應電流）控制放大器設備是與掃描電子顯微鏡（SEM）配合使用的高精度測量系統(tǒng)，主要用于集成電路失效分析中的電流信號放大和成像。

     主要功能：掃描電子顯微鏡（SEM）、電流放大器、電真空饋通、控制與分析軟件。

底噪測試

參數(shù)：輸入懸空，跨阻增益 1M

高分辨率

EBIC技術可以提供高分辨率的失效點定位，有助于精確分析集成電路的失效原因

靈活性

EBIC技術可以與其他失效分析方法（如光學顯微鏡、曲線軌跡分析等）結合使用，提高分析的準確性和效率。

最大峰值輸出

EBIC控制放大器優(yōu)勢：非破壞性，不會損壞集成電路的表面，可以保持樣品的完整性

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紫外APD 探測器

紫外APD 探測器是一款可200-1000nm 內置雪崩高壓和放大部分 放電檢測器。具備200nm-1000nm的響應波長范圍，-3dB帶寬 優(yōu)于10MHz，輸出信號范圍0- +3. 5VpP，輸出信號噪聲<10mVpp基底，結構緊促。

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光電二極管IV測試設備是用于精確測量光電二極管電流-電壓（IV）特性的專業(yè)儀器，其通過施加電壓并測量對應電流，繪制IV曲線以分析器件性能，是光電二極管研發(fā)、生產(chǎn)和質量控制中的關鍵工具。

20db增益射頻放大器系列是一款理想的高速脈沖放大器。帶寬DC-1.0GHz ，增益20dB，噪聲優(yōu)于5.0dB，阻抗50Ω特征阻抗匹配。雙極性信號輸出;

EBIC（電子束感生電流）探測增益控制設備是半導體材料與器件分析領域的關鍵工具，通過精確控制電子束與半導體相互作用產(chǎn)生的微弱電流信號，實現(xiàn)pn結定位、缺陷檢測及載流子擴散長度測量等功能。

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