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光電二極管IV測試設(shè)備簡介

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·   型號(hào)KDT-MPPC

·  光源驅(qū)動(dòng)電壓2-11V

·   光源驅(qū)動(dòng)電流10-800mA

·  偏執(zhí)電壓20-30V

·   pA 輸入電流:±1mA

下載手冊(cè)
特點(diǎn)
型號(hào)
應(yīng)用
推薦

I

          光電二極管IV測試設(shè)備是用于評(píng)估光電二極管性能的關(guān)鍵工具,通過測量其電流-電壓(IV)特性曲線,可獲取驅(qū)動(dòng)電流、正向壓降、光功率、閾值電流等核心參數(shù)

1、電壓掃描:SMU的通道1向光電二極管施加從負(fù)電壓到正電壓的掃描電壓。

2、電流測量:在每個(gè)電壓點(diǎn)下,通道1同時(shí)測量通過光電二極管的電流值。

3、光功率測量:光電二極管激發(fā)的光經(jīng)積分球轉(zhuǎn)化為光電流,由通道2測量,并結(jié)合轉(zhuǎn)換系數(shù)計(jì)算光功率。

4、數(shù)據(jù)處理:軟件將測得的電壓、電流和光功率數(shù)據(jù)繪制成IV曲線,并提取關(guān)鍵參數(shù)。

電壓輸出測試


推薦產(chǎn)品

測試原理


20-30V 偏執(zhí)電壓掃描


型號(hào)
工作溫度范圍
噪聲
供電
輸出阻抗
帶寬【-3dB】
產(chǎn)品手冊(cè)
+12V@+120mA
-25℃ - +65℃
≤10mV
50Ω
1KHz-0.7GHz @2.5Vpp
點(diǎn)擊查看手冊(cè)

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+12V@100mA
-10℃-+60℃
10pw/√Hz
<=50Ω
優(yōu)于10MHz
點(diǎn)擊查看手冊(cè)

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-20 – 60℃
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點(diǎn)擊查看手冊(cè)

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+5V

紫外APD 探測器

紫外APD 探測器是一款可200-1000nm 內(nèi)置雪崩高壓和放大部分 放電檢測器。具備200nm-1000nm的響應(yīng)波長范圍,-3dB帶寬 優(yōu)于10MHz,輸出信號(hào)范圍0- +3. 5VpP,輸出信號(hào)噪聲<10mVpp基底,結(jié)構(gòu)緊促。

您可能需要以下產(chǎn)品

I

光電二極管IV測試設(shè)備是用于精確測量光電二極管電流-電壓(IV)特性的專業(yè)儀器,其通過施加電壓并測量對(duì)應(yīng)電流,繪制IV曲線以分析器件性能,是光電二極管研發(fā)、生產(chǎn)和質(zhì)量控制中的關(guān)鍵工具。

20db增益射頻放大器系列是一款理想的高速脈沖放大器。帶寬DC-1.0GHz ,增益20dB,噪聲優(yōu)于5.0dB,阻抗50Ω特征阻抗匹配。雙極性信號(hào)輸出;

H13700探測器SCDC網(wǎng)絡(luò)輸出模組暫無公開詳細(xì)資料,其功能可能聚焦于探測器信號(hào)的數(shù)字化處理與網(wǎng)絡(luò)化傳輸,需結(jié)合具體設(shè)備文檔或廠商技術(shù)說明進(jìn)一步分析。

EBIC(電子束感生電流)探測增益控制設(shè)備是半導(dǎo)體材料與器件分析領(lǐng)域的關(guān)鍵工具,通過精確控制電子束與半導(dǎo)體相互作用產(chǎn)生的微弱電流信號(hào),實(shí)現(xiàn)pn結(jié)定位、缺陷檢測及載流子擴(kuò)散長度測量等功能。

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